Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Initialisierungszuständen bei Pseudo-Noise-Folgen
EP1430614
Art B1
13. April 2005
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1430614
- Aktenzeichen
- EP02754419
- Anmeldetag
- 23. Juli 2002
- Veröffentlichung
- 13. April 2005
- Erteilung
- 13. April 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B1/707
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Vertreten von
Lange, Thomas
München, Deutschland
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