Verfahren und Vorrichtung für die Submikrometerabbildung und -Sondierung auf Sondenstationen

EP1436636 Art B1 26. Dezember 2007

Anmelder: SUSS MicroTec Test Systems GmbH, MFI Technologies Corporation 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1436636
Aktenzeichen
EP00948604
Anmeldetag
6. Juli 2000
Veröffentlichung
26. Dezember 2007
Erteilung
26. Dezember 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/067
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
SUSS MicroTec Test Systems GmbH
MFI Technologies Corporation
Land
🇩🇪 Deutschland

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Adler, Peter Dresden, Deutschland
55
Patente gesamt
20
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Metallurgie & Oberflächentechnik Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
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