Verfahren und Vorrichtung zur Optischen Untersuchung eines Objektes
EP1436658
Art B1
18. Juni 2008
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Wetzlar GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1436658
- Aktenzeichen
- EP02777053
- Anmeldetag
- 10. September 2002
- Veröffentlichung
- 18. Juni 2008
- Erteilung
- 18. Juni 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B27/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Wetzlar GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner F., Dr
Wetzlar, Deutschland
226
Patente gesamt
16
Fachgebiete
7
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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Hössle Patentanwälte Partnerschaft · Stuttgart
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Hössle Kudlek & Partner · Stuttgart