Verfahren und Vorrichtung zur Beschleunigten Bestimmung von Elektromigrationseigen Schaften von Halbleiterverdrahtung
EP1438595
Art A1
21. Juli 2004
Anmelder: International Business Machines Corporation, Infineon Technologies North America Corp. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1438595
- Aktenzeichen
- EP02782155
- Anmeldetag
- 11. Oktober 2002
- Veröffentlichung
- 21. Juli 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- International Business Machines Corporation
Infineon Technologies North America Corp. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
IBM
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.
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Litherland, David Peter
Winchester, Großbritannien
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