Elektronenstrahl-Vorrichtung mit Elektronenenergie-Analysator, Einrichtung und Methode zur Steuerung von Linsen
EP1441382
Art B1
7. März 2012
Anmelder: JEOL LTD., JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1441382
- Aktenzeichen
- EP04250358
- Anmeldetag
- 23. Januar 2004
- Veröffentlichung
- 7. März 2012
- Erteilung
- 7. März 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/26H01J37/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
JEOL Ltd.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
288 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Palmer, Jonathan R
London, Großbritannien
1.019
Patente gesamt
28
Fachgebiete
20
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Palmer, Jonathan Richard
NoneLondon