Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von gestreiften Bildmustern
EP1445727
Art A1
11. August 2004
Anmelder: NEC Corporation, NEC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1445727
- Aktenzeichen
- EP03102531
- Anmeldetag
- 13. August 2003
- Veröffentlichung
- 11. August 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06K9/00G06K9/03
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Corporation
NEC CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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Fachgebiete
Vertreten von
Poulin, Gérard
Paris, Frankreich
1.981
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19
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