Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Widerstandswertes eines elektronischen Bauelements
EP1450167
Art A1
25. August 2004
Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1450167
- Aktenzeichen
- EP03004023
- Anmeldetag
- 24. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 25. August 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R17/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ELMOS Semiconductor AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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