Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Widerstandswertes eines elektronischen Bauelements

EP1450167 Art A1 25. August 2004

Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1450167
Aktenzeichen
EP03004023
Anmeldetag
24. Februar 2003
Veröffentlichung
25. August 2004
Rechtsraum
EP
IPC
G01R17/10
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ELMOS Semiconductor AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Elmos Semiconductor

Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.

327 Patente in unserer Datenbank

Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen