Hochtemperatur-Wachstum einer Zwischenschicht für ein Gate-Dielektrikum mit hohem K
EP1450395
Art A3
13. April 2005
Anmelder: Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1450395
- Aktenzeichen
- EP04100598
- Anmeldetag
- 13. Februar 2004
- Veröffentlichung
- 13. April 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/316H01L21/28C23C16/40H01L29/51
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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Weitere Vertreter
-
Holt, Michael
NoneNorthampton