Vorrichtung und Verfahren zur Spurfolgefehlerdetektion für optisches Plattenlaufwerk
EP1453039
Art A3
18. Oktober 2006
Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1453039
- Aktenzeichen
- EP04003895
- Anmeldetag
- 20. Februar 2004
- Veröffentlichung
- 18. Oktober 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11B7/00G11B7/007
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Toshiba
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
13.647 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
-
Henkel & Partner mbB
Henkel & Partner mbB · München
-
Henkel, Feiler & Hänzel
Henkel, Feiler & Hänzel · München