Verfahren zur Geführten "blind Deconvolution" Mikroskopischer Bilder und Software
EP1459203
Art B1
19. April 2006
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Wetzlar GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1459203
- Aktenzeichen
- EP02790448
- Anmeldetag
- 28. November 2002
- Veröffentlichung
- 19. April 2006
- Erteilung
- 19. April 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F17/00G06T5/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Wetzlar GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner Franz
Wetzlar, Deutschland
423
Patente gesamt
31
Fachgebiete
18
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar