Verfahren zur Herstellung von Verbindungsstrukturen mit Dielektrischen Eigenschaften eines Niedrigen K

EP1459373 Art A1 22. September 2004

Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1459373
Aktenzeichen
EP02796038
Anmeldetag
26. Dezember 2002
Veröffentlichung
22. September 2004
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/4763H01L21/768
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
LAM RESEARCH CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

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Kanzlei
Dendorfer & Herrmann München, Deutschland

Münchner Kanzlei in unmittelbarer Nähe zu DPMA und Europäischem Patentamt, verbindet akademische Expertise mit rechtlichem und sprachlichem Können. Mitgründer Dr. Franz Herrmann promovierte in Physik an der LMU in Kooperation mit dem Max-Planck-Institut, UC Berkeley und NASA Ames.

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