Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung Dünner Schichten

EP1466164 Art A1 13. Oktober 2004

Anmelder: Gedig, Erk 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1466164
Aktenzeichen
EP02796517
Anmeldetag
21. Dezember 2002
Veröffentlichung
13. Oktober 2004
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/55
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Gedig, Erk
Land
🇩🇪 Deutschland

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Hahn, Christian Endress+Hauser Group Services · Inhouse Weil am Rhein, Deutschland
184
Patente gesamt
17
Fachgebiete
5
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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