Inspektionsvorrichtung mit Rasterelektronenmikroskop
EP1469306
Art A1
20. Oktober 2004
Anmelder: Sony Corporation, JEOL LTD., Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1469306
- Aktenzeichen
- EP03701825
- Anmeldetag
- 21. Januar 2003
- Veröffentlichung
- 20. Oktober 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/225H01J37/20H01J37/28H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Sony Corporation
JEOL LTD.
Jeol Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sony Group
Japanischer Technologie- und Unterhaltungskonzern mit Sitz in Tokio. Sony entwickelt Unterhaltungselektronik, Bildsensoren, Spielesysteme sowie Musik- und Filmangebote.
37.226 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
520 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Müller, Frithjof E
München, Deutschland
491
Patente gesamt
27
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Müller, Frithjof E., Dipl.-Ing
NoneMünchen