Verfahren zur Datenverarbeitung in einem Scanmikroskop mit Schnellem Scanner und Scanmikroskop mit Schnellem Scanner
EP1470720
Art A1
27. Oktober 2004
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1470720
- Aktenzeichen
- EP03701544
- Anmeldetag
- 25. Januar 2003
- Veröffentlichung
- 27. Oktober 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N7/24H04N7/26G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Grunert, Marcus
München, Deutschland
126
Patente gesamt
28
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner Franz
NoneWetzlar
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar