Phasenplatte für die Elektronenmikroskopie und Elektronenmik Roskopische Bildgebung
EP1476890
Art B1
24. September 2014
Anmelder: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1476890
- Aktenzeichen
- EP03739497
- Anmeldetag
- 17. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 24. September 2014
- Erteilung
- 24. September 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/09H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Max-Planck-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Die Max-Planck-Gesellschaft betreibt zahlreiche Institute für Grundlagenforschung in Natur-, Geistes- und Sozialwissenschaften.
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Fachgebiete
Vertreten von
Hertz, Oliver
München, Deutschland
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Hertz, Oliver, Dr
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