Rastersondenmikroskop sowie Verfahren zur Messung der Oberflächenstruktur von Präparaten
EP1482297
Art A1
1. Dezember 2004
Anmelder: RIKEN, Riken 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1482297
- Aktenzeichen
- EP03703178
- Anmeldetag
- 5. Februar 2003
- Veröffentlichung
- 1. Dezember 2004
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N13/10G01N13/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- RIKEN
Riken - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
940 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Ziebig, Marlene
Berlin, Deutschland
481
Patente gesamt
29
Fachgebiete
23
Anmelder-Länder
Schwerpunkte