Verfahren zur Selbstüberwachung eines Mikroskopsystems, Mikroskopsystem und Software zur Selbstüberwachung
EP1488377
Art B1
2. Mai 2007
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1488377
- Aktenzeichen
- EP02795124
- Anmeldetag
- 9. Dezember 2002
- Veröffentlichung
- 2. Mai 2007
- Erteilung
- 2. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T5/00G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Stamer, Harald
Wetzlar, Deutschland
60
Patente gesamt
10
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner Franz
NoneWetzlar
-
Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar