Verfahren und Vorrichtung zum Sicheren Scan-Testen
EP1499906
Art B1
4. Januar 2006
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1499906
- Aktenzeichen
- EP03721656
- Anmeldetag
- 14. April 2003
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2006
- Erteilung
- 4. Januar 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185G06F1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
2.392 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Wray, Antony John
Basingstoke, Großbritannien
604
Patente gesamt
24
Fachgebiete
10
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Schwerpunkte