Kalibrierung eines Feinpositionierers mittels eines Referenzmusters auf einer spurlosen Oberfläche einer optischen Platte
EP1515318
Art B1
24. Mai 2006
Anmelder: HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P., Hewlett-Packard Development Company, L.P. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1515318
- Aktenzeichen
- EP04254304
- Anmeldetag
- 16. Juli 2004
- Veröffentlichung
- 24. Mai 2006
- Erteilung
- 24. Mai 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11B7/09B41J3/407B41J11/00G11B23/40G11B7/0037
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
Hewlett-Packard Development Company, L.P. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Hewlett-Packard
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Palo Alto, Kalifornien. Aktiv in Computerhardware, Druckern, Speicherlösungen sowie Unternehmens-IT und Cloud-Infrastruktur.
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Vertreten von
Jackson, Richard Eric
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