Elektromigrations-Testvorrichtung und Elektromigrations-Testverfahren
EP1516195
Art A1
23. März 2005
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1516195
- Aktenzeichen
- EP03740110
- Anmeldetag
- 25. Juni 2003
- Veröffentlichung
- 23. März 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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Fachgebiete
Vertreten von
Dokter, Eric-Michael
München, Deutschland
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