Probenhalter für ein Elektronenmikroskop und Verfahren zur Reduzierung der Thermischen Drift in einem Elektronenmikroskop
EP1516349
Art B1
15. September 2010
Anmelder: Technische Universiteit Delft 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1516349
- Aktenzeichen
- EP03741650
- Anmeldetag
- 24. Juni 2003
- Veröffentlichung
- 15. September 2010
- Erteilung
- 15. September 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Technische Universiteit Delft
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Winckels, Johannes Hubertus F
Den Haag, Niederlande
1.276
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