Kontrollsystem, Kontrollgerät und Kontrollmethode für einen Kreuztisch für Mikroskope

EP1517168 Art B1 2. August 2017

Anmelder: Olympus Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1517168
Aktenzeichen
EP04021827
Anmeldetag
14. September 2004
Veröffentlichung
2. August 2017
Erteilung
2. August 2017
Rechtsraum
EP
IPC
G02B21/26G05D3/18
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Olympus Corporation
Land
🇯🇵 Japan

Fachgebiete

Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
Vertreten von
von Hellfeld, Axel München, Deutschland
2.557
Patente gesamt
32
Fachgebiete
18
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Software & Datenverarbeitung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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