Verfahren zur Analyse eines Sondenträgers durch Verwendung von Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
EP1519189
Art A1
30. März 2005
Anmelder: CANON KABUSHIKI KAISHA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1519189
- Aktenzeichen
- EP03733576
- Anmeldetag
- 26. Juni 2003
- Veröffentlichung
- 30. März 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C12Q1/68G01N23/225G01N33/53
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CANON KABUSHIKI KAISHA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Canon
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.
10.659 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Beresford, Keith Denis Lewis
London, Großbritannien
4.132
Patente gesamt
33
Fachgebiete
38
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
TBK
TBK · München
-
TBK-Patent
TBK-Patent · München