Herstellungsverfahren für eine optische Nahfeldsonde
EP1519388
Art B1
16. August 2006
Anmelder: Seiko Instruments Inc., SEIKO INSTRUMENTS INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1519388
- Aktenzeichen
- EP04078523
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 16. August 2006
- Erteilung
- 16. August 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G12B21/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Seiko Instruments Inc.
SEIKO INSTRUMENTS INC. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
865 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cloughley, Peter Andrew
London, Großbritannien
836
Patente gesamt
32
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte