Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit einer dielektrischen Schicht aus Silizium-Oxynitrid

EP1524685 Art B1 23. Januar 2013

Anmelder: IMEC, NXP B.V., INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW, Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1524685
Aktenzeichen
EP03447258
Anmeldetag
17. Oktober 2003
Veröffentlichung
23. Januar 2013
Erteilung
23. Januar 2013
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/28H01L29/51H01L21/265
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
IMEC
NXP B.V.
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.613 Patente in unserer Datenbank

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.918 Patente in unserer Datenbank

🇳🇱 Philips

Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.

45.047 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen