Integrierte Halbleiterschaltung mit Temperaturdetektor
EP1530218
Art B1
1. August 2007
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1530218
- Aktenzeichen
- EP04026152
- Anmeldetag
- 4. November 2004
- Veröffentlichung
- 1. August 2007
- Erteilung
- 1. August 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C11/406G01K7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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Kanzlei
Meissner Bolte Patentanwälte
Bremen, Deutschland
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Kreutzer, Ulrich, Dipl.-Phys
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