Verfahren und Sensor zur Bestimmung des Lokalen Kontrastes einer Beobachteten Szene durch Detektion der von Dieser Szene Abgestrahlten Luminanz
EP1535463
Art B1
16. Februar 2011
Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1535463
- Aktenzeichen
- EP03747952
- Anmeldetag
- 1. September 2003
- Veröffentlichung
- 16. Februar 2011
- Erteilung
- 16. Februar 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N5/355H04N5/235H04N5/3745
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Colas, Jean-Pierre
Paris, Frankreich
222
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Weitere Vertreter
-
Poidatz, Emmanuel
NoneParis