Dynamisch konfigurierbare Abtastprüfung
EP1536244
Art B1
13. Januar 2010
Anmelder: TEXAS INSTRUMENTS INC., TEXAS INSTRUMENTS FRANCE, Texas Instruments Inc., Texas Instruments France 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1536244
- Aktenzeichen
- EP03292959
- Anmeldetag
- 27. November 2003
- Veröffentlichung
- 13. Januar 2010
- Erteilung
- 13. Januar 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TEXAS INSTRUMENTS INC.
TEXAS INSTRUMENTS FRANCE
Texas Instruments Inc.
Texas Instruments France - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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Vertreten von
Holt, Michael
Northampton, Großbritannien
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