Quantitative Phasenanalyse Strukturierter Polykristalliner Materialien
EP1540319
Art B1
21. Mai 2008
Anmelder: Nova Measuring Instruments Limited, Hypernex, Inc. 🇮🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1540319
- Aktenzeichen
- EP03771582
- Anmeldetag
- 9. Juli 2003
- Veröffentlichung
- 21. Mai 2008
- Erteilung
- 21. Mai 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/207
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Nova Measuring Instruments Limited
Hypernex, Inc. - Land
- 🇮🇱 Israel
Fachgebiete
Kanzlei
Sonnenberg Harrison Partnerschaft mbB
München, Deutschland
Aus der Kanzlei Sonnenberg Fortmann hervorgegangen, Teil der internationalen 24IP Law Group mit Büros in Berlin, London, Paris und den USA. Deckt neben Patenten auch Markenrecht, das Einheitliche Patentgericht sowie Datenschutz ab.
961
Patente gesamt
2
Patentanwälte
1
Standorte
Weitere Vertreter
-
White, Nicholas John, Dr
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