Photonische Bauelemente und Pics mit Opferteststrukturen und Verfahren zu Ihrer Herstellung

EP1540722 Art A2 15. Juni 2005

Anmelder: Sarnoff Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1540722
Aktenzeichen
EP03788642
Anmeldetag
18. August 2003
Veröffentlichung
15. Juni 2005
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/66H01L23/58G01R31/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Sarnoff Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Sarnoff

Sarnoff war ein US-amerikanisches Forschungs- und Entwicklungsunternehmen mit Sitz in Princeton, New Jersey, das aus den RCA Laboratories hervorging und später in SRI International aufging. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Nachrichtentechnik und Telekommunikation sowie Halbleitertechnik und Bildsensorik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2010.

361 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen