Resist und Verfahren zur Bildung von Resistmustern
EP1541543
Art A1
15. Juni 2005
Anmelder: NEC Corporation, Tokuyama Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1541543
- Aktenzeichen
- EP03794216
- Anmeldetag
- 4. September 2003
- Veröffentlichung
- 15. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C07C43/225G03F7/038G03F7/004
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Corporation
Tokuyama Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
19.509 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Tokuyama
Japanisches Chemieunternehmen mit Sitz in Shunan, gegründet 1918. Produziert unter anderem Spezialchemikalien, Zement und Halbleitermaterialien.
725 Patente in unserer Datenbank