Resist und Verfahren zur Bildung von Resistmustern

EP1541543 Art A1 15. Juni 2005

Anmelder: NEC Corporation, Tokuyama Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1541543
Aktenzeichen
EP03794216
Anmeldetag
4. September 2003
Veröffentlichung
15. Juni 2005
Rechtsraum
EP
IPC
C07C43/225G03F7/038G03F7/004
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
NEC Corporation
Tokuyama Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

19.509 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Tokuyama

Japanisches Chemieunternehmen mit Sitz in Shunan, gegründet 1918. Produziert unter anderem Spezialchemikalien, Zement und Halbleitermaterialien.

725 Patente in unserer Datenbank

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