Verfahren zur Messung von Verunreinigungen für Ge Substrate
EP1542006
Art B1
11. Februar 2015
Anmelder: IMEC, Umicore, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM vzw (IMEC), no data available, (deleted), INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1542006
- Aktenzeichen
- EP04447274
- Anmeldetag
- 13. Dezember 2004
- Veröffentlichung
- 11. Februar 2015
- Erteilung
- 11. Februar 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N1/02G01N1/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Umicore
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM vzw (IMEC)
no data available
(deleted)
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇩🇪
Umicore
Belgisches Materialtechnologie- und Recyclingunternehmen mit deutschem Verwaltungssitz, spezialisiert auf Edelmetalle, Katalysatoren und Batteriematerialien.
1.119 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Van Malderen, Joëlle
Liège, Belgien
744
Patente gesamt
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18
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