Benutzeroberfläche zur Quantifizierung von Scheibenunregelmässigkeiten und Graphische Untersuchungssignifikanz
EP1543550
Art A2
22. Juni 2005
Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1543550
- Aktenzeichen
- EP03756878
- Anmeldetag
- 24. September 2003
- Veröffentlichung
- 22. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LAM RESEARCH CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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Fachgebiete
Vertreten von
Kontrus, Gerhard
Villach, Österreich
229
Patente gesamt
16
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3
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Dendorfer, Claus
Dendorfer & Herrmann · München