Methode zum Testen von Chips unter Verwendung einer maschinell genuteten Ablageschale

EP1544624 Art A1 22. Juni 2005

Anmelder: Xerox Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1544624
Aktenzeichen
EP04257730
Anmeldetag
13. Dezember 2004
Veröffentlichung
22. Juni 2005
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/04H05K13/00H01L21/66B65D6/04
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Xerox Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Xerox

US-amerikanischer Technologiekonzern, der Drucker, Kopierer, Multifunktionsgeräte sowie Dokumentenmanagement- und Druckdienstleistungen für Unternehmen anbietet.

2.489 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen