Apparat zur Oberflächenbeobachtung

EP1544897 Art B1 29. Juli 2009

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON, KABUSHIKI KAISHA TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1544897
Aktenzeichen: EP04029307
Anmeldetag: 10. Dezember 2004
Veröffentlichung: 29. Juli 2009
Erteilung: 29. Juli 2009
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/68

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Kabushiki Kaisha TOPCON
KABUSHIKI KAISHA TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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