Inspektionssystem mit Geneigtem Betrachtungswinkel
EP1546691
Art A1
29. Juni 2005
Anmelder: Applied Materials Israel Ltd., Applied Materials, Inc. 🇮🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1546691
- Aktenzeichen
- EP03799277
- Anmeldetag
- 8. September 2003
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Applied Materials Israel Ltd.
Applied Materials, Inc. - Land
- 🇮🇱 Israel
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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Fachgebiete
Vertreten von
Zimmermann, Gerd Heinrich
München, Deutschland
751
Patente gesamt
31
Fachgebiete
7
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Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB
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