Dunkelfeld-Inspektionssystem
EP1546693
Art A1
29. Juni 2005
Anmelder: Applied Materials Israel, Ltd., Applied Materials, Inc. 🇮🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1546693
- Aktenzeichen
- EP03799278
- Anmeldetag
- 8. September 2003
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Applied Materials Israel, Ltd.
Applied Materials, Inc. - Land
- 🇮🇱 Israel
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
10.783 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Zimmermann, Gerd Heinrich
München, Deutschland
751
Patente gesamt
31
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB
Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB · München