Sondenkarte und Verfahren zur Prüfung einer Halbleiterscheibe mit einer Vielzahl von Halbleitervorrichtungen
EP1548450
Art B1
19. Oktober 2011
Anmelder: Fujitsu Semiconductor Limited, Fujitsu Microelectronics Limited, FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1548450
- Aktenzeichen
- EP05005128
- Anmeldetag
- 10. Juli 2000
- Veröffentlichung
- 19. Oktober 2011
- Erteilung
- 19. Oktober 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/073G01R31/316
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fujitsu Semiconductor Limited
Fujitsu Microelectronics Limited
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
9.047 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Nettinger, Manuela Gertrud
München, Deutschland
16
Patente gesamt
10
Fachgebiete
5
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Nettinger, Manuela
NoneMünchen