Kofokalmikroskop, Fluoreszenzmessverfahren und das Kofokalmikroskop Verwendendes Messverfahren für Polarisiertes Licht
EP1548481
Art A1
29. Juni 2005
Anmelder: Japan Science and Technology Agency 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1548481
- Aktenzeichen
- EP03808886
- Anmeldetag
- 18. September 2003
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/64G02B21/06G01N37/00C12N15/09
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Japan Science and Technology Agency
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Japan Science and Technology Agency
Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.
2.090 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Henseler, Daniela
Düsseldorf, Deutschland
380
Patente gesamt
33
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Röhl, Wolf Horst, Dipl.-Phys., Dr
NoneDüsseldorf