Verfahren und System zur Steuerung von Bandoberflächentemperatur und Aufschlämmungstemperatur bei Chemisch-Mechanischem Linearplanarisieren

EP1549465 Art A1 6. Juli 2005

Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1549465
Aktenzeichen
EP03799354
Anmeldetag
29. September 2003
Veröffentlichung
6. Juli 2005
Rechtsraum
EP
IPC
B24B37/04B24B49/14B24B21/02B24B57/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
LAM RESEARCH CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

2.725 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen