Mikroskop mit Korrektur und Verfahren zur Korrektur der durch Temperaturänderung Hervorgerufenen Xyz-Drift
EP1549990
Art A1
6. Juli 2005
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Wetzlar GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1549990
- Aktenzeichen
- EP03769504
- Anmeldetag
- 1. Oktober 2003
- Veröffentlichung
- 6. Juli 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/24G02B21/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Wetzlar GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Reichert, Werner Franz
Wetzlar, Deutschland
423
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Fachgebiete
18
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Reichert, Werner F., Dr
NoneWetzlar