Vereinzelte Die-Wafer mit Mikrospiegeln
EP1553437
Art B1
21. Februar 2007
Anmelder: Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED, Reflectivity Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1553437
- Aktenzeichen
- EP05000599
- Anmeldetag
- 3. August 2001
- Veröffentlichung
- 21. Februar 2007
- Erteilung
- 21. Februar 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B26/08G03B21/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
Reflectivity Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
3.600 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Degwert, Hartmut
München, Deutschland
318
Patente gesamt
24
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Kirschner, Klaus Dieter
NoneMünchen