Geschutztes Langenmesssystem
EP1554545
Art B1
9. März 2011
Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH, OPTOLAB Licensing GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1554545
- Aktenzeichen
- EP03753501
- Anmeldetag
- 2. Oktober 2003
- Veröffentlichung
- 9. März 2011
- Erteilung
- 9. März 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/347
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Dr. Johannes Heidenhain GmbH
OPTOLAB Licensing GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Dr. Johannes Heidenhain
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
595 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Breit, Ulrich
München, Deutschland
72
Patente gesamt
16
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
- (deleted)
-
Geyer, Fehners & Partner
Geyer, Fehners & Partner · München