Vorrichtung zur Abtastung des Einfallswinkels eines Lichtstrahles
EP1555523
Art A1
20. Juli 2005
Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1555523
- Aktenzeichen
- EP04405032
- Anmeldetag
- 19. Januar 2004
- Veröffentlichung
- 20. Juli 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/55
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.
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La Chaux-de-Fonds, Schweiz
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