Verdrahtungsmusteruntersuchungseinrichtung,untersuchungsverfahrn, Detektionseinrichtung und Detektionsverfahren
EP1557661
Art A1
27. Juli 2005
Anmelder: Toppan Printing Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1557661
- Aktenzeichen
- EP03769964
- Anmeldetag
- 29. Oktober 2003
- Veröffentlichung
- 27. Juli 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956G01B11/24H05K3/46
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Toppan Printing Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toppan Printing
Japanischer Konzern für Druck- und Verpackungstechnologien mit Sitz in Tokio, seit 1900 tätig. Produziert zudem Displays, Halbleitermasken und Sicherheitsdrucke.
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Vertreten von
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