Verfahren zur Bestimmung Derpunktdefektverteilung eines Siliciumeinkristallstabs
EP1559812
Art B1
15. Dezember 2010
Anmelder: SUMCO CORPORATION, Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1559812
- Aktenzeichen
- EP03756681
- Anmeldetag
- 17. Oktober 2003
- Veröffentlichung
- 15. Dezember 2010
- Erteilung
- 15. Dezember 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C30B29/06G01N27/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SUMCO CORPORATION
Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sumco
Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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Bublak, Wolfgang
München, Deutschland
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