Raumliche Analysesysteme Fur Physische Grossen
EP1563259
Art B1
15. August 2007
Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA -Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1563259
- Aktenzeichen
- EP03758058
- Anmeldetag
- 22. Oktober 2003
- Veröffentlichung
- 15. August 2007
- Erteilung
- 15. August 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/247G06T9/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA -Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.
326 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Poidatz, Emmanuel
Paris, Frankreich
16
Patente gesamt
11
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte