Spaltlampenmikroskop

EP1563785 Art B1 25. Dezember 2013

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1563785
Aktenzeichen: EP05001845
Anmeldetag: 28. Januar 2005
Veröffentlichung: 25. Dezember 2013
Erteilung: 25. Dezember 2013
Rechtsraum: EP
IPC: A61B3/135

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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