Halbleiterspeicher mit Vorrichtung zum gleichzeitigen Aktivieren von Speicherblöcken und Methode zum Testen des Halbleiterspeichers
EP1564747
Art A1
17. August 2005
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, SHARP KABUSHIKI KAISHA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1564747
- Aktenzeichen
- EP05250629
- Anmeldetag
- 4. Februar 2005
- Veröffentlichung
- 17. August 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C8/12G11C16/08G11C29/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Sharp Kabushiki Kaisha
SHARP KABUSHIKI KAISHA - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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