Inspektionsverfahren und -system sowie Verfahren zur Herstellung eines bestückten Substrats
EP1578186
Art A3
24. Oktober 2007
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1578186
- Aktenzeichen
- EP05003908
- Anmeldetag
- 23. Februar 2005
- Veröffentlichung
- 24. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H05K13/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
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